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JK-600CH190P4D型外部調節探針冷熱臺

JK-600GCH2190P4微型探針冷熱臺產品特點： 結構緊湊，適用于各種變溫測試 最大溫度范圍-190~600℃（選型) 氣密腔室設計，可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制

JK-600CH190P8型常規探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內精準控制，與其他電學儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。

JK-600CHG2190型光學冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。根據需要，還可以選型光反射或光透射模式。 產品需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）配套使用，配套的上位機

光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。